韓國三星SDI電池技術(shù)團(tuán)隊(duì)來訪銳奇,銳奇X射線全檢面密度儀成為考察關(guān)注亮點(diǎn)
來源:本站 作者:常州銳奇精密測量技術(shù)有限公司 發(fā)布時(shí)間:2024-10-10 10:10:08 瀏覽量:742024年6月18日至19日,韓國三星SDI動力電池及小型電池事業(yè)部攜手天津三星的技術(shù)團(tuán)隊(duì)蒞臨銳奇公司進(jìn)行了為期兩天的考察。
6月18日上午,銳奇售前技術(shù)主管給三星技術(shù)團(tuán)隊(duì)系統(tǒng)地介紹了包括X/β射線面密度儀、X射線全檢面密度儀,射線激光一體機(jī)、激光測厚儀、3D輪廓儀在內(nèi)的銳奇全系列測厚產(chǎn)品,以及銳奇的技術(shù)優(yōu)勢和發(fā)展歷程。雙方就當(dāng)前鋰電池極片涂布一致性測量與控制應(yīng)用中的技術(shù)難點(diǎn)和解決方案進(jìn)行了深入地交流和探討。
X射線全檢面密度儀
6月18日下午和6月19日上午,三星技術(shù)團(tuán)隊(duì)用自帶的鋰電池極片材料對銳奇主要的測厚和面密度儀產(chǎn)品進(jìn)行了靜態(tài)和動態(tài)測試驗(yàn)證,測試機(jī)型包括X射線面密度儀、X射線全檢面密度儀、β射線面密度儀、激光測厚儀、3D光學(xué)輪廓儀等。整個測試驗(yàn)證過程非常成功,銳奇工程技術(shù)中心的測試研發(fā)試驗(yàn)線也給動態(tài)測試帶來了極大的便利。
X射線全檢面密度儀測量曲線與削薄區(qū)測量輪廓線
三星SDI技術(shù)團(tuán)隊(duì)通過對測量數(shù)據(jù)的詳細(xì)分析對測試結(jié)果和銳奇測厚設(shè)備非常滿意,對銳奇在測厚領(lǐng)域的創(chuàng)新和取的技術(shù)成就給與了高度認(rèn)可,特別是對銳奇的X射線全檢面密度儀表現(xiàn)出極大的興趣和高度關(guān)注,認(rèn)為銳奇的X射線面密度全檢技術(shù)已達(dá)到國際領(lǐng)先水平。
6月19日下午,雙方技術(shù)團(tuán)隊(duì)就X射線全檢面密度儀的應(yīng)用價(jià)值進(jìn)行了深入的探討。
X射線全檢面密度儀是銳奇針對客戶鋰電池極片涂布面密度檢測應(yīng)用中的難點(diǎn)、痛點(diǎn)經(jīng)過兩年多的研發(fā)開發(fā)出的一款全新的全檢式面密度儀。它采用全幅寬X射線源和全幅寬0.4mm像素的半導(dǎo)體平板探測器,對走帶進(jìn)行中的極片進(jìn)行全幅寬面密度100%全檢。相對于傳統(tǒng)的抽檢率只有不到2%的掃描式面密度儀,它具有無與倫比的技術(shù)優(yōu)勢和應(yīng)用價(jià)值,主要變現(xiàn)在:100%的面密度檢出率可以大幅降低極片一致性品控風(fēng)險(xiǎn),測量的即時(shí)響應(yīng)讓真正有效的閉環(huán)控制成為可能,實(shí)時(shí)測量反饋可以大幅降低調(diào)機(jī)廢料,正極極片100%面密度表征為去分容和降本增效提供數(shù)據(jù)依據(jù), 0.4mm測量光斑可實(shí)現(xiàn)涂布邊緣削薄區(qū)輪廓檢測,全檢面密度儀的研發(fā)成功,將開啟一個全新的面密度全檢測量方式。
最后,三星團(tuán)隊(duì)對銳奇測量方殼電池密封釘焊接缺陷的3D光學(xué)輪廓儀也進(jìn)行的考察和測試驗(yàn)證,對于小至5μm的焊接裂紋缺陷也能成功檢出表示驚訝,認(rèn)為銳奇的測厚技術(shù)已可以與國際知名品牌媲美。
本次考察讓三星技術(shù)團(tuán)隊(duì)對中國品牌的面密度檢測技術(shù)所達(dá)到的高度有了全新的認(rèn)識,為未來的深入合作打下了基礎(chǔ),也給銳奇團(tuán)隊(duì)為將來的面密度檢測設(shè)備走出國門增加了信心。