測(cè)量應(yīng)用：鋁塑膜厚度一致性在線測(cè)量

測(cè)量方案：光譜共焦測(cè)厚儀；掃描架型式：C型掃描架。

測(cè)量方式：掃描測(cè)量、定點(diǎn)測(cè)量、循環(huán)定點(diǎn)測(cè)量。

測(cè)量范圍：0 ~1000μm； 測(cè)量重復(fù)精度：±0.3μm

功能模塊：在線測(cè)量、實(shí)時(shí)曲線與品質(zhì)數(shù)據(jù)顯示、五限品質(zhì)控制、多重超限預(yù)警/報(bào)警、

全價(jià)值海量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)/追溯、歷史曲線復(fù)顯、自動(dòng)SPC分析、自動(dòng)生成品質(zhì)卷報(bào)

光譜共焦測(cè)厚儀測(cè)量原理

光譜共焦測(cè)厚儀對(duì)于玻璃、高光金屬、鋁塑膜、石墨導(dǎo)熱膜等鏡面/半鏡面反射材料，以及多層透明材料厚度測(cè)量具有優(yōu)勢(shì)。

為什么鋁塑膜厚度測(cè)量選擇光譜共焦測(cè)厚儀：

鋁塑膜材料為復(fù)合材料，測(cè)量需求為鋁塑膜的總厚度，阻透層為不透明的鋁箔，外阻層和CPP熱封層為透明材料，三層材料對(duì)X射線的吸收系數(shù)不同，且存在面密度一致性差異，所以不宜采用X射線測(cè)量。 由于外阻層和CPP熱封層為透明材料，且表面具有半鏡面反射特點(diǎn)，所以動(dòng)態(tài)測(cè)量不宜用激光三角幾何法測(cè)量。 基于以上材料特點(diǎn)和測(cè)量需求，我司提供適合該材料厚度測(cè)量的光譜共焦測(cè)厚方案。